- Analiza structurală : Metode difractometrice şi microscopice : manual
-
Tipul înregistrării: Text tipărit: monografic Autor: Samusi, I. Altele: Cojocaru, Igor Responsabilitate: I. Samusi Editura: Tehnica Locul publicării: Chişinău Anul Ediției: 2006 ISBN: 978-9975-910-01-9 Descriere: 138 p.; 21 cm. Note: Bibliogr. la p. 136-138 Limba: Română Subiect: Electronică Subiect: Dispozitive electronice bazate pe fizica solidului. Dispozitive semiconductoare Subiect: Manual universitar Cota topografică: 621.3 / S 18 Clasificare: 621.3
Unităţi
- 1 înregistrări • Pagini 1 •
- 1
Număr inventar | Nume localizare | Clasă unitate | Tip material | Cota | Clasă utilizare | Situaţie împrumut | Rezervări | Număr Volum | Note | Fişiere ataşate | |
215279
|
Sală de lectură corp I
|
Consultare la sala de lectură
|
Carte tipărită
|
621.3 / S 18
|
1.Normal
|
La raft
|
0
|
|
- 1 înregistrări • Pagini 1 •
- 1
Multimedia
Evaluări
- Adaugă un comentariu şi faci cunoscută opinia ta!
Exportă
Filiala de unde se ridică