Evaluarea fiabilităţii
|
LDR | 00088nx j2200049 | |
---|---|---|
001 | 146660 | |
250 | $a Evaluarea fiabilităţii | |
901 | $a a $b a |
Lucrări:
1 lucrari in 1 publicatii in 1 limbi
1 records Page 1 of 1
- 1
Transient Errors Impact Analysis for Sub-Powered CMOS Circuits at Multiple Levels of Abstraction of a Digital System : Teză de doctorat
de:
Nimară, Sergiu
(Text tipărit)